Phase Measuring Deflectometry
Phase Measuring Deflectometry
자유 형상 초정밀 광부품, 자동차 디스플레이, 우주 광학 및 무인기 센서, 군사용 IR 렌즈, HUD용의 반사경, 윈드실드, 헤드라이트 유닛 등과 같이 양산단계의 자유곡면 사출 성형 부품 등의 초정밀 3차원 표면 형상 측정기.
Previous
Next
자유형상 고정밀 고속 검사 장비 원리
Knauer, Markus C., Jurgen Kaminski, and Gerd Hausler. “Phase measuring deflectometry: a new approach to measure specular free-form surfaces.” Optical Metrology in Production Engineering. Vol. 5457. International Society for Optics and Photonics, 2004.
형상측정 및 분석 결과
| 형상정밀도 | 측정시간 | |
|---|---|---|
| P사 측정장비 결과 | P.V 1.3629 ㎛, RMS 0.1439 ㎛ | 3h 12m 26s |
| 자사 측정장비 결과 | P.V 1.446 ㎛, RMS 0.158 ㎛ | 93sec |